nanoscope analysis是一款相當(dāng)不錯(cuò)的分析工程模型的工具，該軟件可以將光學(xué)圖像AFM放到軟件上執(zhí)行數(shù)據(jù)研究，內(nèi)置十九種分析方案，包括二維分析、三維分析、粒子分析、有圖案的樣本分析、電化學(xué)SPM分析，可以幫助用戶在研究光學(xué)數(shù)據(jù)的時(shí)候提供更加清晰的數(shù)據(jù)分析方案;歡迎大家下載使用哦。

      功能介紹：

      分析功能

      分析函數(shù)關(guān)系到分析在實(shí)時(shí)模式中捕獲的圖像的表面行為。這些命令稱為圖像處理或分析命令。這些命令包含用于分析、修改和存儲(chǔ)收集到的數(shù)據(jù)的視圖、選項(xiàng)和配置。分析可以是自動(dòng)化的(也可以是自動(dòng)程序)或者手工完成。一般來說，分析命令提供了量化樣品表面特性的方法

      二維圖像

      二維圖像分析以二維的角度顯示所選圖像的顏色編碼高度信息。二維圖像分析是對(duì)納米范圍分析的默認(rèn)分析，當(dāng)圖像最初被打開時(shí)，它總是在二維圖像中呈現(xiàn)。

      軸承的分析

      軸承分析提供了一種繪制和分析樣品表面高度分布的方法。軸承分析可應(yīng)用于整個(gè)圖像，或?qū)D像的選定區(qū)域，使用橡膠帶箱。此外，選擇區(qū)域內(nèi)的區(qū)域可以通過使用“停止帶”來移除分析中的多余數(shù)據(jù)。

      深度

      為了分析特征的深度，你有眾多的選擇來測量不同高度的兩個(gè)主要特征之間的高度差。深度分析主要是為自動(dòng)比較兩個(gè)相似的樣本站點(diǎn)的特征深度而設(shè)計(jì)的(例如，在分析大量相同硅晶片的腐蝕深度時(shí))。

nanoscope analysis軟件特色

？？新!形象出口允許出口BMP圖像,TIFF,PNG和JPG或沒有規(guī)模和彩條和在給定dpi或與原像素。與“運(yùn)行歷史”讓許多文件被導(dǎo)出。

？？新!創(chuàng)建AVI電影使用圖像導(dǎo)出和運(yùn)行歷史

？？新!從力量近地天體顯微鏡對(duì)SIS文件的支持

？？新!平,Plane-fit閾值指標(biāo)

？？同步的游標(biāo)和分析:選擇多個(gè)渠道ctrl單擊選項(xiàng)卡。隨后的分析或游標(biāo)將被應(yīng)用到所有選定的渠道

？？顏色表編輯器:選擇命令>從菜單中調(diào)整圖像顏色范圍

？？額外的顯示器大小支持現(xiàn)在包括上網(wǎng)本、筆記本電腦、多個(gè)監(jiān)視器等。